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AFM支持大尺寸
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
AFM-IR纳米红外分析系统
AFM-IR纳米红外分析系统，红外光谱扫描范围：800-3600cm-1；光谱分辨率：800-2700cm-1范围1cm-1; 2700-3600cm-1范围4cm-1。红外光谱图像空间分辨率：10nm。具备红外成像和连续红外光谱采集功能。
AFM-IR纳米红外分析系统

1. 最⼤样品尺⼨：15 mm × 15 mm × 10 mm（⻓宽⾼）。

2. 可检测区域：位于样品中⼼位置10 mm之内。

3. 样品表⾯粗糙度：RMS < 50 nm。

4. 制备基底：⾦基底、红外透光基⽚（如：ZnS、ZnSe、BaF ）、云⺟⽚、硅⽚、玻璃⽚。

5. 样品厚度对基底的要求：> 100 nm可使⽤普通基底，<100 nm应使⽤⾦基底或红外透光基⽚。
高分辨扫描探针成像与综合物性测量系统(QXH-STM/AFM)
型       号: VT STM/AFM
高分辨快速扫描原子力显微镜AFM
型       号: jupiter XR
AFM
型       号: Dimension ICON
AFM
型       号: Dimension Icon
AFM
型       号: ICON2-SYS
AFM
型       号: 德国Bruker D3100
AFM
型       号: Bruker Edge
原子力显微镜AFM
型       号: BRUKER DIMENSION ICON
原子力学显微镜（AFM）
型       号: 布鲁克  Bioscope Resolve
原子力显微镜(AFM)
型       号: ICON2-SYS
AFM
型       号: 布鲁克icon
原子力显微镜（手套箱内）AFM
型       号: Bruker Dimension Icon
表面多探针分析系统STM/AFM/XPS/UPS/LEED 原位
型       号: Multi Analysis Probes System
吸收反射红外、扫描隧道显微镜联用超高真空系统FTIR-STM/AFM
型       号: VT-AFM System
原子力显微镜（AFM）
型       号: Dimension EDGE
AFM原子力显微镜
型       号: Multimode 8 veeco
低温隧道/QPlus原子力显微镜（STM-AFM）
型       号: LT-STM-AFM-N
原子力显微镜AFM
型       号: MFP-3DOrigin+
在线AFM系统
型       号: 未知
在线AFM系统
型       号: 未知
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